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金剛石對頂砧陆续在流低溫恆溫器 FLV-80-DAC

金剛石對頂砧陆续在流低溫恆溫器 FLV-80-DAC

金剛石對頂砧光學陆续在流低溫恆溫器(DAC恆溫器)是專為金剛石對頂砧實驗設計,它採用液氦或液氮降溫,樣品位於真空中,可以實現5K~300K(液氦)以及80K~300K(液氮)溫度範圍內的精確變溫和控溫。樣品座可以配合不同的金剛石壓力包,為了滿足客戶的光學測試需要,工作距離可以按照客戶的要求進行設計。它可以根據實驗需要配置各種電學引線,如磷銅線、錳銅線、同軸電纜等。恆溫器標配透明熔融石英窗,透射波長範圍從紫外到近紅外,可選配其它窗口材料滿足從遠/中紅外、紫外到X射線的寬譜範圍的測試。恆溫器內置加熱器和高精度溫度傳感器,顺利获得配套的傳輸管線、液氦/液氮杜瓦將陆续在流動的製冷劑(液氦或者液氮)蒸發吸熱作為冷源降低樣品座溫度,配合外部的控溫儀實現低溫恆溫器的精準變溫和控溫。

金剛石對頂砧陆续在流低溫恆溫器 FLV-80-DAC產品概述

金剛石對頂砧光學陆续在流低溫恆溫器(DAC恆溫器)是專為金剛石對頂砧實驗設計,它採用液氦或液氮降溫,樣品位於真空中,可以實現5K~300K(液氦)以及80K~300K(液氮)溫度範圍內的精確變溫和控溫。樣品座可以配合不同的金剛石壓力包,為了滿足客戶的光學測試需要,工作距離可以按照客戶的要求進行設計。它可以根據實驗需要配置各種電學引線,如磷銅線、錳銅線、同軸電纜等。恆溫器標配透明熔融石英窗,透射波長範圍從紫外到近紅外,可選配其它窗口材料滿足從遠/中紅外、紫外到X射線的寬譜範圍的測試。恆溫器內置加熱器和高精度溫度傳感器,顺利获得配套的傳輸管線、液氦/液氮杜瓦將陆续在流動的製冷劑(液氦或者液氮)蒸發吸熱作為冷源降低樣品座溫度,配合外部的控溫儀實現低溫恆溫器的精準變溫和控溫。


產品特點:

• 專為金剛石對頂砧實驗設計
• 给予多種金剛石壓力包樣品座,滿足不同的測試需求
• 工作距離滿足不同的光學測試 
• 原位螺杆加壓
• 溫度範圍廣:從5K到300K
• 樣品在真空中,採用熱傳導冷卻
• 標配光學窗口可視範圍38mm
• 配備溫度控制系統
• 可選配擴壓器,傳動比1:100,包括擴壓器和壓力包固定器
• 可選多種類型樣品座,如:光學樣品座、粉末樣品座、液體樣品座探針樣品座及多電極電學樣品座等,多種樣品座可互換


恆溫器圖紙



可選配置——擴壓器

可以根據不同的實驗要求,给予不同轉速比、無磁性、低溫型等多種類型的擴壓產品。傳動比為1:100。

                                 

可選配置——對頂砧頂蓋

给予不同的適配恆溫器頂蓋,可以原位加壓,保證良好的溫度和密封性能。根據不同的實驗,一個恆溫器也可配置不同的頂蓋進行互換。

      




可選配置——氣路

给予氣路可以進行氣膜加壓。

                           

可選配置——杜瓦

给予各種規格的液氮、液氦杜瓦。


可選配置——分子泵組

可以根據客戶的需求,给予各種分子泵組。

      

                      


典型案例
此光學陆续在流金剛石對頂砧恆溫器(DAC恆溫器)是按照老師的實驗進行設計
• 樣品座按照老師的壓力包非標設計
• 1個螺杆原位加壓
• 配合擴壓器,傳動比1:100
• 安裝兩個壓力包固定器,加壓時壓力包穩定固定,不會因為扭力過大造成恆溫器的損壞
• 一個石英窗口用於打光,從壓力包的表面到窗口的外表面距離<10mm
• 第二個溫度傳感器懸掛在壓力包旁邊,第三個溫度傳感器安裝在DAC holder上,用來溫度監視

溫度測試曲線(安裝壓力包,使用液氮):

                      

    300K溫度穩定性(穩定性達到6mK)                     200K溫度穩定性(穩定性達到5mK)

                   

         80K溫度穩定性(穩定性達到7mK)                        降溫曲線(從室溫到80K的降溫時間為50分鐘)


金剛石對頂砧陆续在流低溫恆溫器 FLV-80-DAC技術參數

技術規格和參數:
型號
FLV-80-DAC
溫度範圍
5K~300K(液氦);80~300K(液氮)
初始冷卻時間
40min到80K
溫度穩定性
±100mK
真空度(無製冷劑)
~10-5mbar
光窗可視直徑
38mm
標準窗口顺利获得範圍
185nm-2.1μm