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  液氮高低溫探針台在科學研究和技術開發中發揮着至關重要的作用。它能夠在低溫環境下對樣品進行各種非破壞性的物理性能和電學性能測試，幫助研究人員深入分析材料或者器件的各種物理性能和電學性能，從而為新材料的研發和應用给予重要的數據支持。

  PSM-LN2系列液氮高低溫探針台能夠為半導體晶片的電學參數測試给予一個80K-800K高低溫真空測試環境，顺利获得外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用於低溫真空環境下的晶片、晶圓和器件的非破壞性電測試。

特點
• 液氮高低溫真空探針台，15分鐘內腔體真空度可達到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到最低溫度只需0.2L液氮，使用方便快捷同時兼顧經濟性；
• 探針臂的位移調節在真空腔外操作，可以在不破壞真空的情況下，切換樣品上的不同器件進行測試；
• 獨特的探針臂 X-Y-Z-R四維調節，能滿足最大4英寸樣品的測試；
• 真空腔材質為鋁製材料，能夠有效減小外界的電磁干擾提高測試的精準度和穩定性；
• 探針臂採用三同軸接頭，漏電性能好，實測漏電流小於100fA @1V@80K--800K；
• 測試溫度範圍寬，最大支持80K-800K陆续在變溫；
• 上蓋採用翻蓋結構，換樣更便捷。

測試數據

參數和指標：